Sviluppo di dipositivi micro e nanometrici e loro impiego in microscopia elettrochimica a scansione (SECM)

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dc.contributor.advisor Daniele, Salvatore it_IT
dc.contributor.author Battistel, Dario <1979> it_IT
dc.date.accessioned 2011-06-25T11:03:52Z it_IT
dc.date.accessioned 2012-07-30T16:04:24Z
dc.date.available 2011-06-25T11:03:52Z it_IT
dc.date.available 2012-07-30T16:04:24Z
dc.date.issued 2011-04-01 it_IT
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10579/1097 it_IT
dc.description.abstract Il lavoro svolto in questa tesi di dottorato è stato focalizzato nell’impiego di tecniche elettrochimiche e, in particolare, di tecniche di microscopia elettrochimica quali la microscopia elettrochimica a scansione (SECM) e la più recente Intermitted Contact SECM (IC-SECM). Mediante l’impiego di queste tecniche elettrochimiche, sono state studiate le proprietà chimiche e di reattività elettrochimica di materiali micro e nano strutturati quali film multistrato di Pt/Al2O3 e di diamante drogato con boro (BDD). Parallelamente, sono stati presi in considerazioni aspetti teorici riguardanti la SECM e sono stati simulati i fenomeni di trasporto di massa nel caso di substrati costituiti da regioni attive di dimensione variabile, caratterizzati da un certo grado di recessione. Questo studio ha consentito la formulazione di un modello che è stato verificato sperimentalmente. Infine, sono stati messi a punto dei protocolli per la preparazione di sonde potenziometriche iono-selettive per H+ per IC-SECM. it_IT
dc.description.abstract This thesis is focused on the use of electrochemical techniques and microscopy such as scanning electrochemical microscopy and the recently developed Intermitted Contact SECM (IC-SECM). With the using of these techniques, the chemical and electrochemical properties of micro and nanostructured multilayer thin films of Pt/Al2O3 and borod doped diamond (BDD) were studied. Furthermore, a simulated model that describes the mass transport phenomena in particular SECM experiments was developed. In particular, the model takes into account of the recession degree of an active substrate with different dimensions. The model was experimentally verified. Finally, protocols for the preparation of H+ ion-selective microelectrodes for IC-SECM were developed. it_IT
dc.format.medium Tesi cartacea it_IT
dc.language.iso it it_IT
dc.publisher Università Ca' Foscari Venezia it_IT
dc.rights © Dario Battistel, 2011 it_IT
dc.subject Sensori elettrochimici it_IT
dc.subject Microscopia elettrochimica a scansione (SECM) it_IT
dc.subject Boron Doped Diamond (BDD) it_IT
dc.subject Pt/Al2O3 it_IT
dc.subject Film sottili it_IT
dc.subject Voltammetria ciclica it_IT
dc.title Sviluppo di dipositivi micro e nanometrici e loro impiego in microscopia elettrochimica a scansione (SECM) it_IT
dc.type Doctoral Thesis it_IT
dc.degree.name Scienze chimiche it_IT
dc.degree.level Dottorato di ricerca it_IT
dc.degree.grantor Scuola di dottorato in Scienze e tecnologie (SDST) it_IT
dc.description.academicyear 2009/2010 it_IT
dc.description.cycle 23 it_IT
dc.degree.coordinator Ugo, Paolo it_IT
dc.location.shelfmark D001027 it_IT
dc.location Venezia, Archivio Università Ca' Foscari, Tesi Dottorato it_IT
dc.rights.accessrights openAccess it_IT
dc.thesis.matricno 955500 it_IT
dc.format.pagenumber 225 p. it_IT
dc.subject.miur CHIM/01 CHIMICA ANALITICA it_IT
dc.description.tableofcontent INDICE CAPITOLO 1 p.5 Introduzione p.6 Scopo della Tesi p.11 Bibliografia p.13 CAPITOLO 2 Principi ed Aspetti Teorici p. 15 Trasporto di Massa p. 16 Metodi Voltammetrici p. 27 Microscopi Elettrochimica a Scansione (SECM) p. 36 Intermitted Contact SECM (IC-SECM) p. 48 Simulazioni Numeriche. Il Metodo degli Elementi Finiti p. 56 Bibliografia p. 61 CAPITOLO 3 Parte Sperimentale p. 63 Reagenti p. 64 Campioni Studiati p. 64 Strumentazione p. 67 Preparazione e Caratterizzazione micro e nanoelettrodi p. 70 Preparazione e Caratterizzazione Microelettrodi pH-iono selettivi p. 81 Bibliografia p. 85 RISULTATI E DISCUSSIONE p. 86 CAPITOLO 4 p. 87 Caratterizzazione Pt/Al2O3 p. 88 Caratterizzazione Pt/Al2O3 mediante SECM p. 90 Una diversa strategia per la visualizzazione dei difetti nei film Pt/Al2O3 p. 99 Resistenza dei film di Pt/Al2O3 ad attacco acido e basico p. 109 Applicazioni Pt/Al2O3 come sensori voltammetrici p. 128 Bibliografia p. 136 CAPITOLO 5 p. 138 Patterning p. 139 Simulazioni digitali p. 147 Substrato Non Polarizzato p. 149 Substrato Polarizzato p. 161 Bibliografia p. 171 CAPITOLO 6 p. 172 Caratterizzazione di BDD mediante SECM e IC-SECM p. 173 BDD monocristallino p. 175 BDD policristallino p. 184 Impiego IC-SECM con sonde potenziometriche p. 198 Bibliografia p. 207 CONCLUSIONI p. 208 APPENDICE A p. 211 APPENDICE B p. 216 RINGRAZIAMENTI p. 225 it_IT


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